MSE-636(a) / 1 crédit

Enseignant(s): Cantoni Marco, Navratilova Lucie, Oveisi Emadeddin

Langue: Anglais


Frequency

Every year

Summary

This intensive course is intended for researchers who envisage to use scanning electron microscopy techniques for their research or who want to understand how to interpret SEM images and analytical results presented in scientific publications.

Content

Keywords

SEM, FIB, ESEM

Assessment methods

Written

Dans les plans d'études

  • Nombre de places: 31
  • Forme de l'examen: Ecrit (session libre)
  • Matière examinée: Scanning electron microscopy techniques (a)
  • Cours: 11 Heure(s)
  • Exercices: 1 Heure(s)
  • TP: 2 Heure(s)
  • Nombre de places: 31
  • Forme de l'examen: Ecrit (session libre)
  • Matière examinée: Scanning electron microscopy techniques (a)
  • Cours: 11 Heure(s)
  • Exercices: 1 Heure(s)
  • TP: 2 Heure(s)

Semaine de référence

Cours connexes

Résultats de graphsearch.epfl.ch.